新着情報

2015年10月

2015年10月15日　本社を横浜市へ移転致しました。

2013年7月

2013年7月3日〜5日　ナノ・マイクロビジネス展 日本レーザーブースよりパネル、デモ機の展示を行います。
・パネル展示：ARCscan　マクロ評価解析装置
・デモ機　　：ハンディーマクロ照明（参考出品、実機によるデモ）

2013年5月

2013年5月　社団法人砥粒加工学会「学会誌57巻5号」に弊社社員の記事が掲載されています。
・特集：ナノインプリントリソグラフィ技術における微細化と低コストの現状
・レポートタイトル：ナノインプリント・パターンのマクロ検査技術

2013年1月

2013年1月30日〜2月1日　ナノテク展 日本レーザーブースよりナノ評価・計測・分析技術装置関連で『ARCscan』のパネル展示を行いました。

2012年2月

2012年2月15日　早稲田大学のブースで展示されました。

プリンタブルエレクトロニクス展

2011年11月

2011年11月11日　電子ジャーナル主催でセミナーを行いました。
最新ナノインプリント技術★徹底解説

2010年12月

(株)菱光社ブースより　2010年12月セミコンに出展しました。

セミコンジャパンに出展しました。
『マクロモニタリングツール　ARCscan』は、マクロ専用に開発された光学系を搭載。ワークに合わせて最適な光学系を搭載する事で、従来では検出できなかったムラや、微小欠陥を検出することが可能となりました。

製品名　ARCscan　（アークスキャン）

2010年3月

日刊工業新聞に掲載されました